Классификация групп солнечных пятен | Статья в журнале «Молодой ученый»

Отправьте статью сегодня! Журнал выйдет 30 ноября, печатный экземпляр отправим 4 декабря.

Опубликовать статью в журнале

Авторы: ,

Рубрика: Физика

Опубликовано в Молодой учёный №15 (514) апрель 2024 г.

Дата публикации: 12.04.2024

Статья просмотрена: 60 раз

Библиографическое описание:

Кизилов, К. Р. Классификация групп солнечных пятен / К. Р. Кизилов, К. А. Нурыев. — Текст : непосредственный // Молодой ученый. — 2024. — № 15 (514). — С. 17-20. — URL: https://moluch.ru/archive/514/112941/ (дата обращения: 16.11.2024).



В статье рассмотрена классификация групп солнечных пятен. Были исследованы параметры, относящиеся к группам пятен Корти, Цюриха и Макинтоша.

Ключевые слова: полутень, тень, униполярная группа, биполярная группа.

1. Классификация групп солнечных пятен Корти

Корти (1901) провел первую классификацию пятен по форме и эволюции группы пятен, основываясь на 20-летних наблюдениях в Колледжской обсерватории в Стонихерсте. Он провел классификацию солнечных пятен, рассмотрев около 3500 групп солнечных пятен. Цель классификации Корти — выявить типичные формы и закономерности, наблюдаемые в группах солнечных пятен. Цель заключалась в том, чтобы попытаться описать различные стадии, которые группа пятен прошла в ходе своей эволюции. Как видно на рисунке 1, Валенсийская обсерватория также получила собственную группу пятен. По рисункам производится классификация пятен по форме группы, ее протяженности и тень-полутеневому статусу.

: Классификация групп солнечных пятен

Рис. 1: Классификация групп солнечных пятен

2. Классификация групп Цюрихских пятен

В 1947 году Вальдмайер (1947) воспользовался работой Корти и исследовал эволюцию пятен. Он сделал одномерную классификацию, показывающее развитие, известную сегодня как Цюрихская классификация. На рис. 2 показана Цюрихская классификация. В этой классификации:

А — униполярная группа с одним или несколькими пятнами без полутени,

Б — группа биполярных пятен, состоящая только из теней,

C — биполярная, группа с пятнами полутени только на одном конце группы, спереди или сзади,

D — биполярный, с пятнами полутени в передней и задней части группы, простирающимися более чем на 10° малая группа,

Е — биполярный, с полутеневыми пятнами в передней и задней части группы, расширение 10°-15° между группой,

F — биполярный, с пятнами полутени в передней и задней части группы, расширением более 15° большая группа,

G — биполярная полутень без пятен между передним и задним пятнами, группа с протяженностью более 10°,

H — одиночное пятно в полутени, группа диаметром более 2,5°,

J — одиночное пятно в полутени, представляет группу с диаметром менее 2,5°.

: Классификация групп Цюрихских пятен

Рис. 2: Классификация групп Цюрихских пятен

3. Классификация Макинтоша

Макинтош (1990) создал классификацию с тремя параметрами, структурировав Цюрихскую классификацию. Он сделал эту классификацию, известную как модифицированная Цюрихская классификация или классификация Макинтоша. Макинтош заявил, что ввел эту классификацию, чтобы облегчить задачу наблюдателям. Первый параметр классификации соответствует форме группы, второй параметр зависит от типа самого крупного пятна в группе, третий параметр зависит от типа пятна в группе показывает его распространение. Первый параметр классификации — это классификация Цюриха с удаленными группами G и J. Второй параметр относится к самому большому пятну в группе, третий параметр относится к пятну в группе сделано согласно раздаче. Соответственно, Макинтош использует Цюрихскую классификацию по первому параметру. Он использовал буквы A, B, C, D, E, F и H. Второй параметр — X, R, S, A, H и K, третий параметр состоит из букв X, O, I, C. Классификация Макинтоша — на рисунке 3. Объяснение классификации следующее:

Первый параметр объяснен выше в классификации Вальдмайера;

Второй параметр основан на самом большом пятне группы:

Х — пятно без полутени, то есть тень,

R — рудиментарная полутень, новообразованная полутень в некоторых частях тени,

S — симметричный, менее 2,5,

А — асимметричный, менее 2,5,

Н — симметричный, более 2,5,

K — указывает на асимметричное пятно более 2,5.

По распределению пятен в третьей группе параметров:

X — одно пятно,

О — никакого промежуточного точечного распределения,

I — между передними и задними пятнами группы имеются пятна без полутени,

С — между передними и задними пятнами группы имеются пятна с полутенью.

: Классификация групп солнечных пятен Макинтоша

Рис. 3: Классификация групп солнечных пятен Макинтоша

Литература:

  1. Seliz Koç. 24. Güneş leke çevriminin genel özellikleri ve diğer bazi leke çevrimleriyle karşilaştirilmasi (Yüksek lisans tezi). — Istanbul, 2019.
  2. www.wikipedia.ru
Основные термины (генерируются автоматически): Классификация групп, пятно, группа, параметр, Цюрихская классификация, задняя часть группы, Классификация Макинтоша, пятно полутени, одиночное пятно, униполярная группа.


Ключевые слова

тень, полутень, униполярная группа, биполярная группа

Похожие статьи

Существование черных дыр

В статье рассмотрены такие космические объекты как черные дыры, приведено их определение, освещено их влияние на пространственно-временной континуум. Также определены причины появления и способы их обнаружения. Смоделирована ситуация свободного паден...

Вероятностная оценка ковариационной матрицы для фильтра Кальмана при полярных системах координат

При измерении позиции объекта радаром возникает вопрос о точности измерения. Чтобы минимизировать ошибку измерения используется Фильтр Калмана. Для этого необходимо чтобы измерение было бы выполнено в Декартовых системах координат, но большинство рад...

Создание спектрометра с высоким разрешением

В статье автор описывает процесс создания спектрометра с высоким разрешением, а также приводит описание эксперимента по сравнению солнечного и лунного света.

Можно ли смотреть сквозь камень

В статье автор исследует свойства разных камней, описывает их характеристики проводит эксперимент по определению светопропускания и эксперимент по преломлению света, с целью доказать гипотезу, выдвинутую в исследовательской работе.

Распознавание световых пятен лазера на изображении

В статье описываются проблемы распознавания световых пятен на изображении и возможные пути решения данной проблемы. Рассматривается поиск объектов на изображении с помощью цветовой модели HSV. Описывается алгоритм нахождения центра масс.

Экспериментальное подтверждение закона Малюса

В данной статье описывается метод экспериментальной проверки Закона Малюса. Линейно поляризованный свет проходит через поляризационный фильтр. Определяется интенсивность света как функция от углового положения поляризационного фильтра. Статья предназ...

Как методами космологических тестов для теории Большого взрыва доказать существование тëмной материи

В статье представлен способ доказательства существования тёмной материи с упором на изучение спектроскопии квазаров как метода определения барионной плотности Вселенной.

Темная материя — очередная загадка Вселенной

В статье автор описывает историю открытия, гипотезы существования и предполагаемый состав Темной материи.

Нелинейные модели биполярных транзисторов

В статье рассматриваются основные модели биполярных транзисторов в современных вычислительных программных средствах, их схемы и особенности работы каждой из них.

Обзор проблем применения типовых методов сегментации для оценки параметров движущихся в потоке материалов

В работе рассмотрены проблемы применения типовых методов сегментации изображений для решения задачи определения контуров сыпучих материалов расположенных в несколько слоев, что характерно для условий различных производств, где материалы движутся в по...

Похожие статьи

Существование черных дыр

В статье рассмотрены такие космические объекты как черные дыры, приведено их определение, освещено их влияние на пространственно-временной континуум. Также определены причины появления и способы их обнаружения. Смоделирована ситуация свободного паден...

Вероятностная оценка ковариационной матрицы для фильтра Кальмана при полярных системах координат

При измерении позиции объекта радаром возникает вопрос о точности измерения. Чтобы минимизировать ошибку измерения используется Фильтр Калмана. Для этого необходимо чтобы измерение было бы выполнено в Декартовых системах координат, но большинство рад...

Создание спектрометра с высоким разрешением

В статье автор описывает процесс создания спектрометра с высоким разрешением, а также приводит описание эксперимента по сравнению солнечного и лунного света.

Можно ли смотреть сквозь камень

В статье автор исследует свойства разных камней, описывает их характеристики проводит эксперимент по определению светопропускания и эксперимент по преломлению света, с целью доказать гипотезу, выдвинутую в исследовательской работе.

Распознавание световых пятен лазера на изображении

В статье описываются проблемы распознавания световых пятен на изображении и возможные пути решения данной проблемы. Рассматривается поиск объектов на изображении с помощью цветовой модели HSV. Описывается алгоритм нахождения центра масс.

Экспериментальное подтверждение закона Малюса

В данной статье описывается метод экспериментальной проверки Закона Малюса. Линейно поляризованный свет проходит через поляризационный фильтр. Определяется интенсивность света как функция от углового положения поляризационного фильтра. Статья предназ...

Как методами космологических тестов для теории Большого взрыва доказать существование тëмной материи

В статье представлен способ доказательства существования тёмной материи с упором на изучение спектроскопии квазаров как метода определения барионной плотности Вселенной.

Темная материя — очередная загадка Вселенной

В статье автор описывает историю открытия, гипотезы существования и предполагаемый состав Темной материи.

Нелинейные модели биполярных транзисторов

В статье рассматриваются основные модели биполярных транзисторов в современных вычислительных программных средствах, их схемы и особенности работы каждой из них.

Обзор проблем применения типовых методов сегментации для оценки параметров движущихся в потоке материалов

В работе рассмотрены проблемы применения типовых методов сегментации изображений для решения задачи определения контуров сыпучих материалов расположенных в несколько слоев, что характерно для условий различных производств, где материалы движутся в по...

Задать вопрос