Пензенский государственный университет
- Адрес: Россия, Пензенская область, город Пенза, Красная улица, 40
- Сайт: http://www.pnzgu.ru
- Телефоны: +7 (8412) 36-82-93, +7 (8412) 56-35-11
*Данные предоставлены сервисом Яндекс.Карты.
Статистика
триста шестьдесят восемь авторов
356 статей в журнале «Молодой ученый»
31 статья в сборниках международных научных конференций
5 статей в тематических журналах
2 статьи в журнале «Юный ученый»
Статьи
Молодой учёный
№6 (110) март-2 2016 г.
— Таишев С. Р.
Зависимость структурного совершенства гетероэпитаксиальных слоев из сложных оксидов от условий осаждения
Молодой учёный
№5 (109) март-1 2016 г.
— Якупова Д. В.
Зарубежная историография приватизации в России
Молодой учёный
№1 (105) январь-1 2016 г.
— Карташов С. С., Головяшкин А. А., Головяшкин А. Н., Беспалов Е. С., Мартынов А. В.
Анализ сегнетоэлектрических пленок, моделирование гистерезиса МДП-структур на основе сегнетоэлектрических пленок
Молодой учёный
№1 (105) январь-1 2016 г.
— Таишев С. Р., Крайнова К. Ю.
Оптимизация условий поляризации в наноразмерных сегнетоэлектриках с целью дальнейшего применения в датчиках и МЭМС
Молодой учёный
№23 (103) декабрь-1 2015 г.
— Агейкин А. В., Колесова Е. В., Пронин И. А., Темников В. А.
«Электронный нос» как прорыв в неинвазивной диагностике заболеваний
Молодой учёный
№22 (102) ноябрь-2 2015 г.
— Лепина Ю. В.
К вопросу о разновидности доминанты в художественной прозе
Молодой учёный
№21 (101) ноябрь-1 2015 г.
— Сигаев А. П., Игошина С. Е., Карманов А. А.
О возможности наблюдения квантово-размерных эффектов в тонких пленках широкозонных полупроводниковых металлооксидов
Молодой учёный
№21 (101) ноябрь-1 2015 г.
— Юрков Н. К., Телегин А. М., Калаев М. П.
Комплексный подход к выявлению латентных технологических дефектов печатных плат на этапах производства РЭА
Молодой учёный
№21 (101) ноябрь-1 2015 г.
— Юрков Н. К., Телегин А. М., Калаев М. П.
Моделирование развития разрушений проводников печатных плат как последствий технологических дефектов
Молодой учёный
№21 (101) ноябрь-1 2015 г.
— Лысенко А. В., Бушмелев П. Е., Пивкин А. В.
